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Materia: SISTEMI DI MISURA E CERTIFICAZIONE
Classe/Partizione:
ID Attività Didattica: 906169
Docente: GIAQUINTO NICOLA
Esami: Visualizza Elenco degli Appelli
PeriodoA1 (CICLO ANNUALE)
Inizio lezionisabato 01 ottobre 2016
Fine lezionigiovedì 29 giugno 2017
SegmentoDocenteSSDTipoCFUOreTAFFrequenza
AFFIDABILITA' E CERTIFICAZIONE DI QUALITA' GIAQUINTO NICOLA ING-INF/07 LEZ 6 48 Caratterizzante Libera
ADAMO FRANCESCO
Legenda
SEGMENTO:
Tutte le unità didattiche sono composte da almeno un segmento
TIPO:
LEZ - lezione, ESE - esercitazione, LAB - laboratorio

Orario di Ricevimento

GiornoOra inizioOra fineLuogo
Venerdì 11:30 13:30Stanza docente (piano 3 - DEI. Attualmente, causa lavori in corso, piano 3 Palazzo Strutture DICAR).
Note: Giorno e ora indicate sono necessariamente indicative. Per essere ricevuti, anche in giorni e ore diversi, è possibile e consigliato fissare un appuntamento scrivendo una mail al docente, a cui sarà data di norma risposta immediata.

Obiettivi Formativi:

MODULO 1
Il modulo si prefigge di fornire ai futuri ingegneri elettronici una approfondita conoscenza operativa delle caratteristiche dei sistemi di test e misura automatizzati basati sui principali standard industriali di riferimento, sia hardware (IEEE488, VXI, PXI, LXI), sia software (VISA, SCPI, IVI). Al termine del modulo lo studente sarà in grado di dimensionare l’hardware di un sistema di test automatizzato e di svilupparne il codice di controllo in almeno uno degli ambienti di sviluppo di riferimento per l’industria del settore (LabVIEW, MATLAB, Visual Studio, ecc.).

MODULO 2
Al termine del modulo gli studenti devono essere in grado di: (i) progettare un sistema di controllo statistico per raggiungere obiettivi specificati di qualità della produzione; (ii) valutare e portare al livello voluto l’affidabilità di prodotti e di processi di produzione; (iii) comprendere le problematiche di certificazione di qualità, e tenerne conto nella progettazione e nella produzione.

Contenuti del Corso:

MODULO 1

A)FONDAMENTI SULLA STRUMENTAZIONE DI MISURA NUMERICA
Struttura generale di un sistema di elaborazione numerica del segnale. Richiami sul processo di conversione A/D: campionamento ideale e reale; quantizzazione ideale e quella reale. Principali architetture degli ADC. Principali parametri di errore degli ADC reali: DNL, INL, SNR, SINAD, ENOB, SFDR. Classificazione degli errori di misura negli strumenti (richiami): errori sistematici ed errori casuali, statici e dinamici. Incertezza di una misura diretta eseguita con strumentazione digitale: identificazione delle diverse componenti di errore (di guadagno, di offset, di nonlinearità e di quantizzazione). Errori della base dei tempi degli strumenti digitali: errore della velocità di sweep, di ritardo del trigger, di jitter del trigger, rumore di fase. Interpretazione delle specifiche di errore degli strumenti di misura.

B)STRUMENTAZIONE DIGITALE PROGRAMMABILE: L’HARDWARE
Sistemi ATE: principale strumentazione, dispositivi e architetture. Standard industriali per l'hardware dei sistemi ATE: IEEE488, VXI, PXI, IEEE1178, USB, IEEE802.3, LXI. Dettagli sullo standard IEEE488 (GPIB). Caratteristiche essenziali degli standard VXI, PXI, IEEE1174, USB, LAN/WAN-based (LXI).

C)STRUMENTAZIONE DIGITALE PROGRAMMABILE: IL SOFTWARE
Standard software per i sistemi ATE: SCPI, VISA, IVI. Uso di LabVIEW, MATLAB, Microsoft Visual Studio per il controllo di strumentazione GPIB (IEEE488), Ethernet, USB, ecc. Caratteristiche dei principali ambienti di sviluppo per il software di controllo dei sistemi ATE: National Instruments LabVIEW, Microsoft Visual Basic/C#, MATLAB, ecc.

D)DISPOSITIVI DI ACQUISIZIONE DATI (DAQ) PC-based: HARDWARE E SOFTWARE
I dispositivi DAQ: generalità. Dispositivi DAQ general purpose e application specific: schema a blocchi e caratteristiche principali. Uso di MATLAB, LabVIEW e Microsoft Visual Studio per il controllo di dispositivi DAQ.

E)ESERCITAZIONI DI LABORATORIO
-Uso di una SMU (Source and Measurement Unit) programmabile per il test automatizzato di dispositivi a semiconduttori a 1 o 2 porte (diodi a giunzione, BJT, MOSFET, IGBT);
-Fitting sinusoidale a 3 e 4 parametri;
-Uso di un oscilloscopio digitale e di un generatore di funzioni DDS per la misura di modulo e fase della funzione di risposta armonica di un sistema lineare; fitting parametrico per la determinazione dei parametri della funzione di trasferimento del sistema.
-Uso di un sistema DAQ basato su PC per il controllo di avvio/arresto di un motore asincrono trifase e l’acquisizione della sua corrente di spunto;

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MODULO 2

A) Richiami di probabilità e statistica.

B) Affidabilità. Nozioni fondamentali, funzioni affidabilità, inaffidabilità, tasso di guasto, ecc. Parametri di affidabilità MTTF, MTBF, MTTR, Availability, ecc. Stima dei parametri di affidabilità. Tecniche di incremento dell’affidabilità e affidabilità combinatoria.

C) Controllo statistico della qualità. Teoria dei test di ipotesi e applicazioni nel controllo di qualità: carte di controllo per variabili e per attributi, piani di campionamento e politiche di gestione dei lotti rifiutati. Stima puntuale e per intervalli di parametri di qualità. Norme tecniche relative al controllo statistico.

D) Certificazione di qualità. Il quadro europeo sulla qualità. Sistema Qualità Italia: SINCERT, SINAL, SNT, FIDEA, ACCREDIA. La valutazione di conformità e l'accreditamento. L'evoluzione della famiglia di norme ISO 9000. La gestione della strumentazione di misura in qualità. L'Empowerment.

E) Laboratorio. Applicazioni del controllo statistico alla caratterizzazione di strumentazione di misura. Esercizi e applicazioni al calcolatore, da svolgersi in parte in laboratorio e in parte a casa.

Testi di Riferimento:

MODULE 1
1. Lecture notes and courseware prepared by the teacher, available in electronic format.
2. Application notes of the main manufacturers of digital programmable instrumentation.

MODULE 2
Lecture notes, summaries of formulae and Matlab programs prepared by the teacher. Lecture notes are partly available on the site https://sites.google.com/site/giaquintopoliba/, and partly distributed during the course.

Requisiti:

MODULO 1 Fondamenti di Teoria dei Circuiti, Teoria dei Segnali, Controlli Automatici, Misure Elettriche ed Elettroniche, Informatica, Elettronica analogica e digitale. MODULO 2 Calcolo differenziale e integrale, teoria della probabilità e delle variabili aleatorie continue e discrete, nozioni di base sull'organizzazione internazionale della metrologia.



Materia: SISTEMI DI MISURA E CERTIFICAZIONE
Classe/Partizione:
ID Attività Didattica: 906169
Docente: ADAMO FRANCESCO
Esami: Visualizza Elenco degli Appelli
PeriodoA1 (CICLO ANNUALE)
Inizio lezionisabato 01 ottobre 2016
Fine lezionigiovedì 29 giugno 2017
SegmentoDocenteSSDTipoCFUOreTAFFrequenza
AFFIDABILITA' E CERTIFICAZIONE DI QUALITA' GIAQUINTO NICOLA ING-INF/07 LEZ 6 48 Caratterizzante Libera
ADAMO FRANCESCO
Legenda
SEGMENTO:
Tutte le unità didattiche sono composte da almeno un segmento
TIPO:
LEZ - lezione, ESE - esercitazione, LAB - laboratorio

Orario di Ricevimento

GiornoOra inizioOra fineLuogo
Martedì 15:00 16:00Laboratorio "OpenMultiLab", piano -1 del plesso "Salvatore" (ex-Architettura) o Studio al 3^ piano del plesso ex-Strutture
Note: Il docente è disponibile a fornire chiarimenti anche per e-mail all'indirizzo francesco.adamo@poliba.it
Mercoledì 10:00 12:00Laboratorio "OpenMultiLab" al piano -1 del plesso "Salvatore" (ex-Architettura) o studio al 3^ piano del plesso ex-Strutture
Note: Si prega di contattare preventivamente il docente per e-mail (francesco.adamo@poliba.it) o telefonicamente all'interno 3919 per fissare ora e luogo del ricevimento.

Obiettivi Formativi:

MODULO 1
Il modulo si prefigge di fornire ai futuri ingegneri elettronici una approfondita conoscenza operativa delle caratteristiche dei sistemi di test e misura automatizzati basati sui principali standard industriali di riferimento, sia hardware (IEEE488, VXI, PXI, LXI), sia software (VISA, SCPI, IVI). Al termine del modulo lo studente sarà in grado di dimensionare l’hardware di un sistema di test automatizzato e di svilupparne il codice di controllo in almeno uno degli ambienti di sviluppo di riferimento per l’industria del settore (LabVIEW, MATLAB, Visual Studio, ecc.).

MODULO 2
Al termine del modulo gli studenti devono essere in grado di: (i) progettare un sistema di controllo statistico per raggiungere obiettivi specificati di qualità della produzione; (ii) valutare e portare al livello voluto l’affidabilità di prodotti e di processi di produzione; (iii) comprendere le problematiche di certificazione di qualità, e tenerne conto nella progettazione e nella produzione.

Contenuti del Corso:

MODULO 1

A)FONDAMENTI SULLA STRUMENTAZIONE DI MISURA NUMERICA
Struttura generale di un sistema di elaborazione numerica del segnale. Richiami sul processo di conversione A/D: campionamento ideale e reale; quantizzazione ideale e quella reale. Principali architetture degli ADC. Principali parametri di errore degli ADC reali: DNL, INL, SNR, SINAD, ENOB, SFDR. Classificazione degli errori di misura negli strumenti (richiami): errori sistematici ed errori casuali, statici e dinamici. Incertezza di una misura diretta eseguita con strumentazione digitale: identificazione delle diverse componenti di errore (di guadagno, di offset, di nonlinearità e di quantizzazione). Errori della base dei tempi degli strumenti digitali: errore della velocità di sweep, di ritardo del trigger, di jitter del trigger, rumore di fase. Interpretazione delle specifiche di errore degli strumenti di misura.

B)STRUMENTAZIONE DIGITALE PROGRAMMABILE: L’HARDWARE
Sistemi ATE: principale strumentazione, dispositivi e architetture. Standard industriali per l'hardware dei sistemi ATE: IEEE488, VXI, PXI, IEEE1178, USB, IEEE802.3, LXI. Dettagli sullo standard IEEE488 (GPIB). Caratteristiche essenziali degli standard VXI, PXI, IEEE1174, USB, LAN/WAN-based (LXI).

C)STRUMENTAZIONE DIGITALE PROGRAMMABILE: IL SOFTWARE
Standard software per i sistemi ATE: SCPI, VISA, IVI. Uso di LabVIEW, MATLAB, Microsoft Visual Studio per il controllo di strumentazione GPIB (IEEE488), Ethernet, USB, ecc. Caratteristiche dei principali ambienti di sviluppo per il software di controllo dei sistemi ATE: National Instruments LabVIEW, Microsoft Visual Basic/C#, MATLAB, ecc.

D)DISPOSITIVI DI ACQUISIZIONE DATI (DAQ) PC-based: HARDWARE E SOFTWARE
I dispositivi DAQ: generalità. Dispositivi DAQ general purpose e application specific: schema a blocchi e caratteristiche principali. Uso di MATLAB, LabVIEW e Microsoft Visual Studio per il controllo di dispositivi DAQ.

E)ESERCITAZIONI DI LABORATORIO
-Uso di una SMU (Source and Measurement Unit) programmabile per il test automatizzato di dispositivi a semiconduttori a 1 o 2 porte (diodi a giunzione, BJT, MOSFET, IGBT);
-Fitting sinusoidale a 3 e 4 parametri;
-Uso di un oscilloscopio digitale e di un generatore di funzioni DDS per la misura di modulo e fase della funzione di risposta armonica di un sistema lineare; fitting parametrico per la determinazione dei parametri della funzione di trasferimento del sistema.
-Uso di un sistema DAQ basato su PC per il controllo di avvio/arresto di un motore asincrono trifase e l’acquisizione della sua corrente di spunto;

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MODULO 2

A) Richiami di probabilità e statistica.

B) Affidabilità. Nozioni fondamentali, funzioni affidabilità, inaffidabilità, tasso di guasto, ecc. Parametri di affidabilità MTTF, MTBF, MTTR, Availability, ecc. Stima dei parametri di affidabilità. Tecniche di incremento dell’affidabilità e affidabilità combinatoria.

C) Controllo statistico della qualità. Teoria dei test di ipotesi e applicazioni nel controllo di qualità: carte di controllo per variabili e per attributi, piani di campionamento e politiche di gestione dei lotti rifiutati. Stima puntuale e per intervalli di parametri di qualità. Norme tecniche relative al controllo statistico.

D) Certificazione di qualità. Il quadro europeo sulla qualità. Sistema Qualità Italia: SINCERT, SINAL, SNT, FIDEA, ACCREDIA. La valutazione di conformità e l'accreditamento. L'evoluzione della famiglia di norme ISO 9000. La gestione della strumentazione di misura in qualità. L'Empowerment.

E) Laboratorio. Applicazioni del controllo statistico alla caratterizzazione di strumentazione di misura. Esercizi e applicazioni al calcolatore, da svolgersi in parte in laboratorio e in parte a casa.

Testi di Riferimento:

MODULE 1
1. Lecture notes and courseware prepared by the teacher, available in electronic format.
2. Application notes of the main manufacturers of digital programmable instrumentation.

MODULE 2
Lecture notes, summaries of formulae and Matlab programs prepared by the teacher. Lecture notes are partly available on the site https://sites.google.com/site/giaquintopoliba/, and partly distributed during the course.

Requisiti:

MODULO 1 Fondamenti di Teoria dei Circuiti, Teoria dei Segnali, Controlli Automatici, Misure Elettriche ed Elettroniche, Informatica, Elettronica analogica e digitale. MODULO 2 Calcolo differenziale e integrale, teoria della probabilità e delle variabili aleatorie continue e discrete, nozioni di base sull'organizzazione internazionale della metrologia.